壓電系數(shù)測(cè)試儀基本原理是采用高頻諧振法，并提供了通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。它以單片計(jì)算機(jī)控制儀器，測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定、標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定、諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索、Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換、數(shù)值顯示等新技術(shù)，改進(jìn)了調(diào)諧回路，使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至，并保留了原Q表中自穩(wěn)幅等技術(shù)，使得新儀器在使用時(shí)更為方便，測(cè)量時(shí)更為準(zhǔn)確。
主要應(yīng)用于：
無(wú)源元件：壓電系數(shù)測(cè)試儀可用于電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。
半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析。
其它元件：印制電路板、繼電器、開關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估。
介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估。
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估。
半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性。
液晶材料：壓電系數(shù)測(cè)試儀還可用于液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性。
